（1）设备用途
CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器量子效率、光谱响应度、光谱范围、中心波长等光谱参数测试。
（2）设备参数及系统组成
可测量光谱范围：200nm~1100nm； 波长分辨率：优于0.1nm； 调整步长：优于1nm； 测试重复性精度：优于±1%。
关键词:
CMOS芯片光谱参数测试系统
CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器量子效率、光谱响应度、光谱范围、中心波长等光谱参数测试。
电话：0431-86176098
分享:
所属分类:
