CMOS芯片光电性能参数测试系统
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一、产品功能

CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器器件噪声、转换增益、动态范围、信噪比等光电类参数测试。

二、产品参数

指标

数值

可测量光谱范围

350nm~1100nm

光源照度调节范围

100000倍

光源均匀性

优于99.5%

测试重复性精度

优于±1%

关键词:

图像传感器性能测试

动态范围

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CMOS芯片光电性能参数测试系统

CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器器件噪声、转换增益、动态范围、信噪比等光电类参数测试。

邮箱：ciomp-zjzx@ciomp.ac.cn

电话：0431-86176098

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图像传感器测试类

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