CMOS芯片像质评价参数测试系统
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一、产品功能

CMOS芯片像质评价参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器静态MTF、动态MTF、角度响应曲线等参数测试。

二、产品参数

指标

数值

可测量光谱范围

350nm~1100nm

静态MTF测试重复性精度

优于±0.01

动态MTF测试重复性精度

优于±0.02

最大支持行频

160kHz@5.5um像元

关键词:

图像传感器测试类

静态MTF

动态MTF

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CMOS芯片像质评价参数测试系统

CMOS芯片像质评价参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器静态MTF、动态MTF、角度响应曲线等参数测试。

邮箱：ciomp-zjzx@ciomp.ac.cn

电话：0431-86176098

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