CMOS芯片光谱参数测试系统
CMOS芯片光谱参数测试系统
+
  • CMOS芯片光谱参数测试系统
  • CMOS芯片光谱参数测试系统

一、产品功能

CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器量子效率、光谱响应度、光谱范围、中心波长等光谱参数测试。

二、产品参数

指标

数值

可测量光谱范围

200nm~1100nm

波长分辨率

优于0.1nm

调整步长

优于1nm

测试重复性精度

优于±1%

关键词:

图像传感器性能测试

量子效率

CMOS芯片光谱参数测试系统
CMOS芯片光谱参数测试系统
+
  • CMOS芯片光谱参数测试系统
  • CMOS芯片光谱参数测试系统

CMOS芯片光谱参数测试系统

CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器量子效率、光谱响应度、光谱范围、中心波长等光谱参数测试。

邮箱：ciomp-zjzx@ciomp.ac.cn

电话：0431-86176098

在线咨询
相关设备

分享:

微博 微信 朋友圈 QQ QQ空间 复制链接

所属分类:

图像传感器测试类

在线咨询

注：请留下您的联系方式，我们的专业人员将尽快与您联系！

提交留言
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
事业单位

网站地图      电子邮件      在线留言      English

版权所有：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

电话：0431-86176098

邮箱：ciomp-zjzx@ciomp.ac.cn

技术支持：中企动力长春

二维码

Sorry，当前栏目暂无内容!

您可以查看其他栏目或返回 首页

Sorry，The current column has no content!

You can view other columns or return Home