（1）设备用途
CMOS芯片像质评价参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器静态MTF、动态MTF、角度响应曲线等参数测试。
（2）设备参数及系统组成
可测量光谱范围：350nm~1100nm； 静态MTF测试重复性精度：优于±0.01；动态MTF测试重复性精度：优于±0.02； 最大支持行频：160kHz@5.5um像元。
关键词:
CMOS芯片像质评价参数测试系统
CMOS芯片像质评价参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器静态MTF、动态MTF、角度响应曲线等参数测试。
电话：0431-86176098
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