（1）设备用途
CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器器件噪声、转换增益、动态范围、信噪比等光电类参数测试。
（2）设备参数及系统组成
可测量光谱范围：350nm~1100nm；光源照度调节范围：100000倍； 光源均匀性：优于99.5%；测试重复性精度：优于±1%。
关键词:
CMOS芯片光电性能参数测试系统
CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器器件噪声、转换增益、动态范围、信噪比等光电类参数测试。
电话：0431-86176098
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