电学检测/试验类

电波暗室(EMCT3)


电波暗室是专门为国家军用标准GJB 151A-1997、GJB 152A-1997、GJB 151B-2013设计的电磁兼容测试场地,暗室类型为5米法半电波暗室,主要用于军用电子设备的​电磁干扰发射(EMI)和电磁抗扰度(EMS)测量,可精准模拟开阔场环境下的电磁波传播特性,确保测试结果符合军标对设备抗干扰性能的严苛要求。

CMOS芯片像质评价参数测试系统


CMOS芯片像质评价参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器静态MTF、动态MTF、角度响应曲线等参数测试。

系统级总线测试仪


系统级总线测试仪用于主要用于分析和测试产品电子学FPGA、CCD等高速并行数字信号的时序逻辑关系和信号的完整性,可以对CCD驱动、处理等复杂数字电路进行测试。

高速信号分析仪


用于记录分析航天载荷电子学高速数字信号的性能,包括波形参数测量,眼图测量,抖动测量,一致性测量等。可以对CCD电路、控制电路等复杂信号进行快速触发并识别信号完整性问题,可快速扫描完成数千个采集波形周期,并隔离出异常的信号行为。

矢量网络分析仪


用于测试电子学无源器件、有源器件和电子线路的物理特性。

激光尘埃粒子计数器


用于测量和分析洁净环境中单位体积空气内的尘埃粒子大小及数量,依据标准判定洁净环境洁净度等级的检测仪器。尘埃粒子计数器广泛应用于医药卫生、光学、化学、食品、化妆品、电子、生物制品、航空航天等企业的洁净车间检测。

ACL Model 800表面电阻测量仪


用于测量所有导电型、防静电型以及静电泄放型产品的表面的阻抗或电阻。

EMCT-01 电磁兼容质量检验台


电磁兼容质量检验台是专门为国家军用标准GJB 151A-1997、GJB 152A-1997、GJB 151B-2013中CE102、RE102设计的电磁兼容诊断性测试设备,主要用于军用电子设备的​电源线传导发射和电场辐射发射诊断性测量,可应用于电磁兼容整改场景,当CE102、RE102测试结果不符合标准要求时,在施加电磁兼容整改手段后,进行复测并迭代,确保测试结果符合军标对设备电磁发射性能的严苛要求。

1553数据通路完整性测试仪


1553B数据通路完整性测试仪用于航天载荷与卫星之间的1553B数据通讯总线的电气性能测试和协议功能测试。

二次电源测试性能系统


二次电源性能测试系统用于航天载荷二次电源性能指标的测试,可用于额定输出电压及电流、电压精度、电压稳定度、负载稳定度、输出纹波电压、输入启动特性、输出启动特性、输出负载阶跃变化、效率、遥测输出电阻等参数测试。

通用电磁兼容预测试系统(EMCT-5)


通用电磁兼容预测试系统用于军用设备和分系统的电磁兼容性(EMC)测试。

CMOS芯片光电性能参数测试系统


CMOS芯片光电性能参数测试系统用于科学级CMOS图像传感器器件噪声、转换增益、动态范围、信噪比等光电类参数测试。
< 12 >